凍結乾燥法

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凍結乾燥法

凍結乾燥法は走査電子顕微鏡(SEM)で試料観察するために必要な乾燥法の1つです。
凍結乾燥法は試料内部の水分を冷却・凍結させた後に、真空排気させることで液体を経由しないで気化させる乾燥法です。
この凍結乾燥法の利点は、臨界点乾燥法と比べて試料の収縮が少ない、試料が物理的・化学的変化を受けにくい、無固定でも乾燥させることが可能、といった利点を持ちます。一方で凍結時の氷が組織を破壊する可能性があったり、時間がかかるといった欠点もあります。


電子顕微鏡の構造

電子顕微鏡の構造は主に以下の様なものから構成されています。
電子銃、陽極室仕切弁、集束レンズ・コイル、ゴニオメーター、試料ホルダ、対物レンズ・コイル、制限視野絞り装置、双眼顕微鏡、観察窓、観察室、カメラ室、加速管、収束視にレンズ・コイル(CMレンズ)、対物絞り装置、対物視にレンズ(OMレンズ)コイル、中間レンズ・コイル、投影レンズ・コイル、観察室仕切り弁など。


電子顕微鏡装置の中は高真空で保たれていて、試料を入れた後電子ビームを電子銃から照射して観察を行います。



電子顕微鏡の歴史

電子顕微鏡はエルリンスト・ルスカというベルリン工科大学の卒業論文から始まったといわれています。そして最初の電子顕微鏡の完成が1931年であり、その電子顕微鏡の倍率は17倍でした。
その後1933年に倍率が1万2千倍という電子顕微鏡が開発されました。


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