臨界点乾燥法

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臨界点乾燥法

臨界点乾燥法は走査電子顕微鏡(SEM)で試料観察するために必要な乾燥法の1つです。
臨界点乾燥法は液体の臨界点を利用した乾燥法で、試料を液体に入れて密閉させ、温度を臨界点以上に上げ気化させて、その状態の温度を保ちながら大気圧まで圧力を下げて乾燥させます。
一般的に、比較的低温・低圧の臨界点を持つ二酸化炭素が生物試料に対して用いられます。


電子顕微鏡の構造

電子顕微鏡の構造は主に以下の様なものから構成されています。
電子銃、陽極室仕切弁、集束レンズ・コイル、ゴニオメーター、試料ホルダ、対物レンズ・コイル、制限視野絞り装置、双眼顕微鏡、観察窓、観察室、カメラ室、加速管、収束視にレンズ・コイル(CMレンズ)、対物絞り装置、対物視にレンズ(OMレンズ)コイル、中間レンズ・コイル、投影レンズ・コイル、観察室仕切り弁など。


電子顕微鏡装置の中は高真空で保たれていて、試料を入れた後電子ビームを電子銃から照射して観察を行います。



電子顕微鏡の歴史

電子顕微鏡はエルリンスト・ルスカというベルリン工科大学の卒業論文から始まったといわれています。そして最初の電子顕微鏡の完成が1931年であり、その電子顕微鏡の倍率は17倍でした。
その後1933年に倍率が1万2千倍という電子顕微鏡が開発されました。


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